磁性涂层测厚仪测量影响因素

　　磁性涂层测厚仪是*研发的新产品，是一种小型便携式仪器，磁性测厚仪也称涂层测厚仪、镀层测厚仪、涂镀层测厚仪，在具体实施测量时的影响因素主要有如下21条。

　　1、基体金属磁性变化。为了避免热处理、冷加工等因素的影响，应使用与镀件金属具有相同性质的铁基片上 对仪器进行校对。

　　2、测量基体金属厚度，基体金属有一定临界厚度，超过厚度测量就不受基体厚度的影响。

　　3、边缘效应，在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不的，校对试片尽量在试片中间以减少误差。

　　4、测量件曲率，试件的曲率对测量有影响，这种影响是随着曲率半径减小明显增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。

　　5、被测物体表面粗糙度，基体金属和表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差。每次测量时，在不同位置上增加测量的次数，克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙还必须在未涂覆的粗糙相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用没有腐蚀性的溶液除去在基体金属上的覆盖层，再校对仪器零点。

　　6、磁场，被测物体周围磁场会干扰磁性测量，影响涂层测厚仪精度。

　　7、附着物质，本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。

　　8、测量过程中探头的放置，探头的放置方式对测量有影响，在测量中使探头与试样表面保持垂直。这是涂层测厚仪(其他测厚仪，如超声波测厚仪也是这样)测量中要注意的问题。

　　9、试片的变形及试片本身的误差，探头使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上会出现一定的误差。

　　10、测量次数，对于数据要求经度比较高的测量要实行多次测量求平均值，精度要求更高的可以多台仪器测量求平均值。

　　11、基体金属磁性质

　　磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对涂层测厚仪进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。

　　12、基体金属电性质

　　基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对涂层测厚仪进行校准。

　　13、基体金属厚度

　　每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表

　　14、边缘效应

　　涂层测厚仪对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

　　15、曲率

　　试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

　　16、试件的变形

　　测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

　　17、表面粗糙度

　　基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

　　18、磁场

　　周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。

　　19、附着物质

　　涂层测厚仪对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。

　　20、测头压力

　　测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。

　　21、测头的取向

　　测头的放置方式对测量有影响。涂层测厚仪在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。